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同步束线上PSS探测限及其应用研究
的计数率和高的探测限是目前PSS推7应用的主要障碍。为解决这个问题，提高激发源的强度和密度是一直接的途径，因此强流离子微束和高亮度的同步光微束就成为理想的激发源：另一方面，PSS高量分辨率的本身有利于探测限的降低。所以，人们希望用强流微束源能实现微量元素元素的分析。日本人Mokuno等已用强流离子微束实现了这种分析IM，B130(1997)243．246]，而我们选择用3W1柬线的同步光微柬进行PSS探测限的研究，试图探索这种分析的可行性与条件。二、探测限的研究结果与讨论PSS与不同线宽度的同步光微柬(．SRL)联合，对几种样品，如薄样(1<mg／cm)、轻基(以H、C和。为主)体和复杂基体的厚样进行了分析，并得到了一些有意义的结果。(1)薄样t．t―SRL宽度()为2001-tm气溶胶样和Cu标样(43g／cm，Micro．MatterComp．，USA)的绝对检测量达10g量级。(2)轻基体样品I．t-SRL宽度()为401．tmCr化合物的水溶液样图1为由Cr含量50ppm的水液样测定的Cr谱，其DL<5ppm。一l53―Channel图150ppmCr水液样中Cr谱含Cr的酵母样品图2为用Cr含量1380ppm的酵母压片测定的Cr谱，其DL<10ppm。图中另一谱，为一未知Cr含量的酵母样品，比照己知含量求得其Cr量约500ppm。channeI图2不I司cr含量的酵母样品的Cr谱(3)复杂基体的厚样．SRL宽度(x)为20gm用K2Cr207试剂压片，其中Cr的重量比为35．5％，所测定的Cr谱，其DL~150ppm。由上述结果可知,[link widoczny dla zalogowanych]，在u．SRL上，用PSS易于实现薄样和轻基体厚样的微量元素分析。而对复杂基体的厚样，要达到微量分析,[link widoczny dla zalogowanych]，尚需进一步研究。另外可看到，低能端本底较高，表明对散射线未能做到最佳的屏蔽。一l54―三、PSS应用前景(1)高能量分辨的微量元素分析在Si(Li)探测中，由于分辨率的限制，常见谱相互覆盖的重叠现象，因此对一些元素的确定只能借助计算机程序处理，并已成为主要手段。但是，这种方法对覆盖峰的处理，尤其对含量低不能实际见到的元素峰，不可避免的要带进一些人为因素，从而使结果真实性受到一定影响。用PSS作高能量分辨的微量元素分析，主要在于排除相邻元素前这者的K[3线与后者Kct线、●中等元素的L线和重元素的M线与轻元素和中等元素K线线间的覆盖干扰，从而提高元素分析的准确性和可靠性。我们己分析过不锈钢样品，清楚分辨开了能量间隔为47eV的CrK[3与MnKct线的覆盖干扰。最近，一样品中，临近FeKcz的一小峰被观测到，如图3所示。在Si(Li)~]U量中,[link widoczny dla zalogowanych]，由于Si(Li)探测谱低能尾巴的影响，这样的小峰是观测不到的。关。图3一土壤样品与土壤标样在所探测能域内元素谱的比较(2)化学态分析当前用PSS分析化学态，从原理上大致可分为两类：(i)直接测量表征化学位移的谱峰位置的移动；(ii)测量基于重离子束激发引起多重电离产生的卫星线，因这卫星线的强度变化与价态有(iii)过渡元素KB系的分布和强度与化学态相关，也已被用于化学态的研究,[link widoczny dla zalogowanych]。一l55―由于X射线不能激发卫星线,[link widoczny dla zalogowanych]，所以在同步辐射上可能实现的只能是第一和第三类。第一个报道峰位移结果的是用在美国BNL同步束线上的PSS实现的。这种测量要求PSS系统有很高的精度与稳定度。尤其是晶体的定位，要求<10度。目前我们还不具备这样条件。但随着高能所同步辐射性能的提高和PSS装置的完善，终将有可能实现这一有意义的工作。至于第三类，我们将创造条件进行探索。一l56―
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